Měření rentgenovým spektrometrem
- Typ zařízení: Spektrometr VANTA VCA
- Přesná a nedestruktinví analýza složení
- Výstup: protokol chemického složení a obrazová dokumentace
Rentgenový spektometr
Nový spektrometr 
je rychlý, přesný, bateriově napájený ED-XRF spektrometr určený pro screening výrobků, produktů a surovin z hlediska směrnic RoHS/RoHS2/WEEE. Je určen pro přesné zjištění shody se směrnicí, okamžité vyhodnocení. Spektrometr měří jak materiály celistvé, tak materiály heterogenní a díky integrované kameře a fokusaci je možné se zaměřit i na drobné komponenty či jednotlivé SMD součástky.
Použití zařízení
- Přesná a rychlá nedestruktivní analýza chemického složení kovových a nekovových materiálů.
- Okamžitá analýza chemické složení měřeného materiálu a shody s normou
- Měření tlouštěk galvanického pokovení – mód Coating
- Výstupem měření je jak chemické složení, tak verdikt souladu / nesouladu se směrnicí. Chemické složení je stanoveno u následujících prvků: Cr, Hg, Pb, Br, Cd, plus Cl, Ti, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Bi, Se, Sn, Sb.
Analýzu je možné doplnit i o další prvky: Cl, Ca, V, Mn, Se, Br, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Hf, Ta, W, Ba, Au, Bi, LE.
- Výstupní protokol společně s výsledky analýzy zahrnuje i obrazovou dokumentaci měřeného předmětu
Mód Coating
Měřící mód pro stanovení tlouštěk galvanického pokovení v um a to z hlediska následujících povrchových vrstev:
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Au
